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<図書>
Possible reliability problems affecting use of TOEIC IP Test scores / Brian D. Bresnihan
(兵庫県立大学政策科学研究叢書 ; v. 83)

出版者 Kobe : Institute for Policy Analysis and Social Innovation, University of Hyogo
出版年 2010
大きさ 329 p. : ill. ; 21 cm
本文言語 英語
書誌ID TB90301009

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一般注記 "University of Hyogo Monograph Vol. LXXXII"--T.p. verso
Includes bibliographical references
著者標目 Bresnihan, Brian D.
分 類 NDC8:802
NDLC:KE41
NCID BB0382858X

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書庫1C 洋書7・8版 (420-999)
802/B72p 114070537




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